Chame TESTER 高速LED檢測系統
Chame TESTER測試儀已重新設計，為符合測量及LED生產(chǎn)高速測試需求，整合了卓立漢光研發(fā)的SGM CCD攝譜儀及高速的Chame -3000系列LED電性分析儀，MEGA LED TESTER可用來(lái)測試所有LED相關(guān)之光學(xué)與電性參數。
在生產(chǎn)過(guò)程中快速測量LED參數對于儀器是項特別的挑戰，因為符合CIE的測量標準時(shí)，出光效率非常低；在這同時(shí)，確保生產(chǎn)設備可以有效益生產(chǎn)的運轉，高速的測量時(shí)間是必要的，多項的LED的光學(xué)與電性參數測試均涵蓋其中，不同封裝的LED適用范圍也必須由小的SMT設計以至于高功率的LED。
?、賁pectral radiant flux（W/nm）：光譜
?、赑eak wavelength（λp）：高波長(cháng)
?、跠ominant wavelength（Hue；λd）：色域波長(cháng)
?、蹸enter wavelength（λc）：中心波長(cháng)
?、軪xcitation Purity（Chroma；%）：色純度
?、轈hromaticity Coordinates（x，y @1931）：色坐標
?、逤.C.T.（correlated color temperature）：色溫
?、郈.R.I.（color rendering index）：演色指數
SGM100確保了主要的測量參數 高度及再現性，如LED主波長(cháng)及的色坐標等，在傳統高速的電性測量速度下，對SGM100測量速度要求加快許多。如圖所示，其清楚的描述客戶(hù)確實(shí)可以減少電子測量的時(shí)間，尤其是搭配LED分選機高速的測試需求。
新的可調式使用者接口組態(tài)與擴充的數組功能合并，以符合所有分BIN的要求。新的裝置特征系依據統計分析及整體性考慮，也是針對白光晶圓與Lamp LED分選設備，都搭配了專(zhuān)用探測模塊。
完整的測量配置（光強、光通量、色彩值、輻射模式的測量）
快速測量周期l<30mS
兼容CIE127-2007測量標準l，NIST 標準溯源
經(jīng)濟完備的CCD分光技術(shù)l 以及智能化色彩分析軟件
可以連接系統各選項的光強與光通量探頭l
優(yōu)化的質(zhì)量保證l
Chame LED軟件，DLLs的驅動(dòng)。l
光強n [cd]
光通量[LM]n
主波長(cháng)，中心波長(cháng)，波峰測量n
色坐標，色溫，演色指數n
空間輻射模式n
SGM100光學(xué)檢測系統是采用完備的CCD與光柵分光技術(shù)來(lái)測量LED的發(fā)光特性與參數。各種光學(xué)適配器都可以根據測量需要，可以搭配到SGM100的輸入端，定義成相應的光強或光通量等光學(xué)單位。
除了具吸引力的價(jià)格外，還有的儀器測量度。SGM100是按照精密儀器標準制造的，SGM100光柵攝譜儀及其配件在出廠(chǎng)前都按照NIST標準校正過(guò)，USB接口隨插即用。
SGM100 LED光學(xué)檢測系統升級與服務(wù)：
該產(chǎn)品的主要功能就是對LED光學(xué)特性及參數進(jìn)行測量。憑借多年服務(wù)業(yè)界的經(jīng)驗以及強大的技術(shù)力量，對您未來(lái)成長(cháng)的需求提供配套的升級服務(wù)。
實(shí)用簡(jiǎn)單Chame ED光譜色度分析軟件：
軟件可以支持您使用基本的LED測量，函數分析，和相應檔處理；并支持各類(lèi)多功能電表支持你所需要的LED電性分析，稍微懂得計算機的產(chǎn)線(xiàn)作業(yè)人員就能操作，保證你的生產(chǎn)質(zhì)量。
