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什么是C-T光學(xué)結構以及兩種C-T結構中的分辨率差異
更新時(shí)間：2024-04-08瀏覽：8847次
　　目前的光譜儀較多的采用Czerny-Turner(切尼- 特納) 光路結構，即以?xún)擅姘济娣瓷溏R分別作為準直鏡和成像鏡，以平面反射光柵作為色散元件。這種光路結構的好處有兩種：一是平面光柵設計難度低，復制較為容易，衍射效率高，另一方面是由于Czerny-Turner 結構可調節和布置的結構參數較多，可以通過(guò)增加如濾光片輪SD 等光學(xué)元件避免二次和多次衍射，便于采用光電陣列探測器接收光譜。
 
　　常見(jiàn)的切尼- 特納光譜儀主要分為交叉型和M 型兩種結構。如下圖所示。
 

 

　　上圖中左所示為交叉型，是由M 型演變而來(lái)，結構更緊湊，空間利用率高，代表產(chǎn)品是小型光纖光譜儀。上圖中右為M 型，是C-T光譜儀的經(jīng)典結構，代表產(chǎn)品是北京卓立漢光公司的譜王系列光譜儀。
 

 

　　對這兩種典型切尼- 特納光路結構進(jìn)行理論計算和對比試驗后，可得出：交叉型光路結構寬光譜范圍內的分辨率呈“V”型，即中心波長(cháng)處分辨率 高，邊緣波長(cháng)處分辨率 低，而M 型光路結構在全光譜范圍內變化較小，近似呈“一”型，即后者寬光譜范圍內的分辨率一致性遠好于前者。
 

 

　　此結論表明：在切尼-特納式光柵光譜儀的研制中，如果對于寬光譜分辨率一致性要求較高，則應采用M型光路結構。
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