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產(chǎn)品展示

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發(fā)射光譜測量系統

  • 產(chǎn)品型號:OmniES系列
  • 產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-20
  • 簡(jiǎn)要描述:發(fā)光體,如白熾燈、熒光燈、LED等輻射光譜及發(fā)光特性的測試,對研究其特性有很大幫助。系統不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布,而且可在此基礎上得到積分輻射通量、光通量、色坐標等。
  • 產(chǎn)品介紹
  發(fā)光體,如白熾燈、熒光燈、LED等輻射光譜及發(fā)光特性的測試,對研究其特性有很大幫助。系統不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布,而且可在此基礎上得到積分輻射通量、光通量、色坐標等。
 
  針對不同輻射光源的特性,可靈活選擇測試系統,如:寬帶光源和LED 通常分辨率要求不高,建議使用SGM100 或短焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀;激光器、放電燈、等離子體、原子發(fā)射光譜等要求分辨率高,建議使用長(cháng)焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀;寬波長(cháng)范圍(UV ~ IR),建議采用雙出口單色儀接兩個(gè)探測器;測試寬光譜范圍的發(fā)光體,需要采用SD 濾光片輪消多級光譜。
 
  系統組成:分光系統+檢測系統+數據采集及處理系統+軟件系統+計算機系統
 

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