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產(chǎn)品展示

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等離子體發(fā)射光譜測量系統

  • 產(chǎn)品型號：OmniES-Plasma
  • 產(chǎn)品時(shí)間：2024-05-20
  • 簡(jiǎn)要描述：該系統用于測量等離子體發(fā)射光譜測量，采用模塊化設計 采用光纖導光或空間光耦合
  • 產(chǎn)品介紹
 ● 該系統用于測量等離子體發(fā)射光譜測量，采用模塊化設計
● 采用光纖導光或空間光耦合
● 可定位測量空間位置（選配功能）
● 測量光譜范圍：200-2500nm或1μm-14μm
● 光譜分辨率：優(yōu)于0.05nm（@1200g/mm光柵）
● 波長(cháng)準確度：優(yōu)于±0.2nm
● 波長(cháng)重復性：優(yōu)于±0.1nm
● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動(dòng)控制功能、光譜曲線(xiàn)繪制功能、全自動(dòng)測量、數據運算、保存及打印等功能
 

 

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