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        光致熒光光譜測量是半導體材料特性表征的一個(gè)被普遍認可的重要測量手段。MiniPL為模塊化設計、計算機自動(dòng)控制的高靈敏度、寬帶隙小型PL（光致熒光）光譜儀；MiniPL采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器224nm（5.5eV）或248.6nm（5eV）作為激發(fā)光源，配合*的光路設計，采用高靈敏度PMT作為探測器件，并通過(guò)儀器內置的門(mén)閘積分平均器（Boxcar）進(jìn)行數據處理，實(shí)現微弱脈沖信號的檢測。MiniPL可被用表征半導體材料摻雜水平分析、合成組分分析、帶隙分析等，不僅可用于科研領(lǐng)用，更可用在半導體LED產(chǎn)業(yè)中的品質(zhì)檢測。

主要規格特點(diǎn)：

■ 采用5.5（224nm）或5.0 eV（248.6nm）深紫外激光器

■ 室溫PL光譜測量范圍：190~650nm（標準），190~850nm（選配）

■ 高分辨率：0.2nm（@1200g/mm光柵，標配），

                    0.07nm（@3600g/mm光柵，選配）

■ 門(mén)閘積分平均器（Boxcar）進(jìn)行微弱脈沖信號的檢測

■ 可實(shí)現量子效率測量

■ 基于LabView的界面控制

■ 光譜分析軟件可獲得光譜帶寬、峰值波長(cháng)、峰值副瓣鑒別、光譜數據運算、歸一化等

■ 大可測量50mm直徑樣品，樣品可實(shí)現XYZ三維手動(dòng)調整（標準）

■ 可選配自動(dòng)樣品掃描裝置，實(shí)現Mapping功能

■ 可用于紫外拉曼光譜測量

■ 高度集成化，體積：15 ×18  × 36cm，重量：<8kg

 AlGaN光致發(fā)光光譜及PL Mapping光譜（含3D圖譜），樣品尺寸：直徑50mm（樣品由客戶(hù)提供）