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DSR300微納器件光譜響應度測試系統是一款專(zhuān)用于低微材料光電測試的系統。其功能全面,提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應速率測試。40μm探測光斑,實(shí)現百微米級探測器的絕對光譜祥響應度測量。超高穩定性光源支持長(cháng)時(shí)間的連續測試,豐富的光源選擇以及多層光學(xué)光路設計可擴展多路光源,例如超連續白光激光器,皮秒脈沖激光器,半導體激光器,鹵素燈,氙燈等,滿(mǎn)足不同探測器測試功能的要求,是微納器件研究的優(yōu)選。
DSR300微納器件光譜響應度測試系統功能:
■ 光譜響應度
■ 外量子效率
■ 單色光/變功率IV
■ 不同輻照度IT曲線(xiàn)(分辨率200ms)
■ 不同偏壓下的IT曲線(xiàn)
■ LBIC,Mapping
■ 線(xiàn)性度測試
■ 響應速率測試
主要技術(shù)參數:
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 網(wǎng)站地圖