聯(lián)系電話(huà):
010-5637 0168-696
您現在的位置:首頁(yè)>產(chǎn)品展示>光譜儀器>激光閃光光解光譜儀
背景介紹—瞬態(tài)吸收光譜和瞬態(tài)吸收成像的應用
基于泵浦探測(Pump-Probe)原理的瞬態(tài)吸收光譜,在頻率維度和時(shí)間維度上提供了豐富的光譜和動(dòng)力學(xué)信息,過(guò)去的幾十年應用于物理、化學(xué)、材料、能源、生物等廣泛領(lǐng)域。當今,許多領(lǐng)域科學(xué)研究的范式和需求都在不斷更新。尤其是隨著(zhù)鈣鈦礦光伏、二維材料、量子器件、高溫超導等前沿領(lǐng)域的發(fā)展,科學(xué)家迫亟需在空間維度上揭示載流子等微觀(guān)離子的遷移和演化規律,研究微納米材料的物理態(tài)在空間分布上的異質(zhì)性。瞬態(tài)吸收成像,可在空間和時(shí)間維度上研究微觀(guān)粒子和能量的運動(dòng)和演化,是研究微觀(guān)粒子和能量的時(shí)空演化、闡釋微觀(guān)機制的重要工具。
儀器基本功能和性能:儀器具有點(diǎn)泵浦-寬場(chǎng)探測,和寬場(chǎng)泵浦-寬場(chǎng)探測兩種工作模式。分點(diǎn)泵浦模式可用于測量載流子遷移和熱導率等;寬場(chǎng)泵浦模式可用于測量載流子分布和物理態(tài)的空間異質(zhì)性等。
儀器原理和實(shí)現方式
Omni-TAM900寬場(chǎng)飛秒瞬態(tài)吸收成像系統原理如下圖所示,經(jīng)過(guò)飛秒激光器和光學(xué)參量放大器(OPA)之后出來(lái)的飛秒激光,通過(guò)顯微鏡的光學(xué)系統進(jìn)入,并作為泵浦光源激發(fā)樣品,而另一束經(jīng)過(guò)空間調制的探測光在一定的時(shí)間延遲之后也經(jīng)過(guò)顯微系統到達樣品,樣品在激發(fā)態(tài)對探測光產(chǎn)生的吸收情況會(huì )被顯微鏡上的sCMOS 相機記錄下來(lái)。通過(guò)調節光學(xué)延遲線(xiàn)(Optical Delay Line),得到樣品在不同延遲時(shí)間下的sCMOS圖像。
Omni-TAM900 可以有兩種成像模式(如下圖所示): 聚焦泵浦光模式(點(diǎn)泵浦,寬場(chǎng)探測)和寬場(chǎng)泵浦光模式(寬場(chǎng)泵浦、寬場(chǎng)探測),前者主要用于研究載流子的遷移,后者用于檢測載流子的空間分布狀況。
軟件
軟件可進(jìn)行同步采集,自動(dòng)控制和處理,載流子的壽命、載流子的遷移速率、載流子的分布、動(dòng)力學(xué)等信息均可以通過(guò)軟件得到。
光源 | 飛秒激光 +OPA,激光波長(cháng)范圍取決于應用場(chǎng)景 |
檢測器 | sCMOS |
成像空間分辨率 | 500 nm |
載流子遷移定位精度 | 30nm |
時(shí)間分辨率 | 500 fs (100 fs 激光脈沖條件下) |
時(shí)間延遲線(xiàn) | 0-4 ns/0-8 ns |
顯微鏡模塊 | 倒置顯微鏡,上方為開(kāi)放空間,后期可兼容低溫模塊、探針臺、電學(xué)調控、磁場(chǎng)等特殊實(shí)驗場(chǎng)景。 |
測量模式 | 點(diǎn)泵浦 + 寬場(chǎng)探測(載流子遷移) 寬場(chǎng)泵浦 + 寬場(chǎng)探測(載流子分布) |
儀器工作模式 | 反射 / 散射 |
下一篇:激光誘導熒光光譜診斷系統
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 網(wǎng)站地圖